TIS
是最新的数字X射线轮胎扫描检测系统，采用CMOS X射线成像技术，仅10秒种就可完成宽度为1370mm的高精度360°轮胎扫描检测。TIS很容易与现有系统配套，通过专门设计的检测工作站就可以改造原有的Luminex系统。
轮胎转动的同时，高精度图像将实时并自动在计算机的屏幕上滚动，可以随时将图像暂停或打印。
技术参数：
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探测器： |
CMOS分割相阵，有效区长1370mm，分为5个无缝部分 |
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兼容性： |
改造Luminex轮胎检测系统以增加图象质量和系统使用寿命 |
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图像精度： |
80μm (.003")/个象素单元，对于轮胎的表面采用高速检测，300-400μm的精度，一般执行13个象素单元 |
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灵敏度： |
2-2T |
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X-射线要求： |
240 kV恒压管 |
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扫描速度： |
305mm/s |
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图像体积： |
150KB/平方英寸单元像素，单个轮胎图像在13个象素大约4MB |
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工作站： |
>3.2GHz 工业PC，1GB RAM，120GB双硬盘 |
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软件： |
强大的软件包（含X射线图像采集/放大、测量、扫描控制、图像储存、输出及打印） |
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电源： |
110-220 V，50-60 Hz，120 W（包括工作站和扫描器的总功率） |
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机壳： |
带导轨的灰镀层铝板 |
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